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  • 外置準直器

    Amptek 的 eMLC-1 外置準直器可以降低從其他角度進入到 SDD 和 FastSDD 探頭的 X 射線,改善本底,減少干擾。最合適的外置準直器取決于儀器的幾何結構;用戶可以針對自身應用設計自己的外置準直器。它對很多應用會很有幫助。



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    AMPTEK SDD 和 FastSDD 探頭外置準直器


       Amptek 的 eMLC-1 外置準直器可以降低從其他角度進入到 SDD 和 FastSDD 探頭的 X 射線,改善本底,減少干擾。最合適的外置準直器取決于儀器的幾何結構;用戶可以針對自身應用設計自己的外置準直器。它對很多應用會很有幫助。

       Amptek 的 SDD 和 FastSDD 探頭都有一個內置準直器(MLC),防止 X 射線打到探頭的邊緣,防止因邊緣部分電荷收集較弱而產生邊緣效應。eMLC-1 是多層準直器,封裝于黃銅中。它的核心層是鎢層,外部是幾層低能材料用來過濾特征 X 射線;最外層是鋁。


    規格參數

    多層準直器(MLC)底層是 100um 的鎢(W),第一層是 35um 的鉻(Cr),第二層是 15um 的鈦(Ti),最后一層是 75um 的鋁(Al)。
    準直器封裝:底層是 0.02”的黃銅,外面鍍一層 Ni。安裝在 0.01”Ni 的探頭外殼上。

    開口面積:17mm2


    機械結構
    右下圖是機械圖。注意:Be 窗和準直器之間有 0.02”的間隙。



    eMLC-1
    Amptek SDD 和 FastSDD 探頭外置準直器
    應用
    下圖說明了使用外置準直器的效果。這是用 Amptek 實驗室 KIT(Ag 靶光管,濾光片是 W 和 Al)測試的高密度聚乙烯樣品譜圖,理論上譜圖中不應該有金屬。黑色譜圖是探頭前沒加外置準直器測試譜圖,可以很明顯的看到 Fe,Ni,Cu 峰(Ni 是來自探頭的外殼或結構中的其他材料)。橙色譜圖是使用外置準直器 eMLC-1 測試譜圖??梢钥吹?Ni 強度降低了 70%,其他峰完全被消除。由于角度的減少,所以總計數降低了 20%。


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